1. 前后雙工位系統，減少機器停頓時間，顯著提高工作效率2. 各種樣品吸盤、夾具定制3. 專業圖像處理與計算軟件（空洞率計算和顆粒度分析，不僅適用于超聲波掃描顯微鏡，同時可用于電鏡、光學顯微鏡、 共聚焦顯微鏡、 X-Ray 等眾多顯微檢測設備）4、圓柱體、管材樣品檢測旋轉裝置5、使用要求； 220V，50Hz ，去離子水
德國 PVA Hibert Filter- 外置濾波器（軟件開關控制，用于110MHz 以上延遲性探頭使用）2. 各種樣品吸盤、夾具定制、半自動化設備升級3. 專業圖像處理與計算軟件（空洞率計算和顆粒度分析，不僅適用于超聲波掃描顯微鏡，同時可用于電鏡、光學顯微鏡、 共聚焦顯微鏡、 X-Ray 等眾多顯微檢測設備） 圖為左右排列雙探頭，每個探頭各掃描1個6' Wafer 雙探頭掃描系統（雙探頭可左右排列或前后排列），成倍提高檢測效率
部分可選項： 1. 大水槽，深水槽定制；各種樣品吸盤、夾具定制2. 專業圖像處理與計算軟件（空洞率計算和顆粒度分析，不僅適用于超聲波掃描顯微鏡，同時可用于電鏡、光學顯微鏡、 共聚焦顯微鏡、 X-Ray 等眾多顯微檢測設備）3. 德國 PVA Hibert Filter- 外置濾波器（軟件開關控制，用于110MHz 以上延遲性探頭使用）使用要求；220V，50Hz ，去離子水如需更為詳細資料，敬請來電來函索取，如軟件、硬件升級，相關參數會有所變更，請以生產廠家確認為準。
部分可選項： 1. 德國 PVA Hibert Filter- 外置濾波器（軟件開關控制，用于110MHz 以上延遲性探頭使用）2．前后雙工位系統，減少機器停頓時間，顯著提高工作效率3. 各種樣品吸盤、夾具定制、半自動化設備升級4．在不改變掃描機構主體，升級為雙探頭（左右排列或前后排列）、四探頭掃描系統，成倍提高掃描效率4. 專業圖像處理與計算軟件（空洞率計算和顆粒度分析，不僅適用于超聲波掃描顯微鏡，同時可用于電鏡、光學顯微鏡、 共聚焦顯微鏡、 X-Ray 等眾多顯微檢測設備）5、圓柱體、管材樣品檢測旋轉裝置使用要求；220V，50Hz ，去離子水備注：SAM 300 系列包含 SAM 301 HighTec 高端機型,SAM 301 UltraTec 超高速機型（雙馬達配置，掃描速度最高達 2000mm/s）SAM 300 B, SAM 301 HD2 等機型，根據具體配置予以細分，滿足不同用戶需求；歡迎您來電咨詢，我們會根據您的產品檢測需要，為您推薦最合適的機型和配置.設備如軟件、硬件升級， 相關參數會有所變更，請以生產廠家確認為準。
部分可選項： 1. 德國 PVA Hibert Filter- 外置濾波器（軟件開關控制，用于110MHz 以上延遲性探頭使用）2．前后雙工位系統，減少機器停頓時間，顯著提高工作效率3. 各種樣品吸盤、夾具定制、半自動化設備升級4．在不改變掃描機構主體，升級為雙探頭（左右排列或前后排列）、四探頭掃描系統，成倍提高掃描效率4. 專業圖像處理與計算軟件（空洞率計算和顆粒度分析，不僅適用于超聲波掃描顯微鏡，同時可用于電鏡、光學顯微鏡、 共聚焦顯微鏡、 X-Ray 等眾多顯微檢測設備）5、圓柱體、管材樣品檢測旋轉裝置
部分可選項： 1. 德國 PVA Hibert Filter- 外置濾波器（軟件開關控制，用于110MHz 以上延遲性探頭使用）2. 各種樣品吸盤、夾具定制、半自動化設備升級3 專業圖像處理與計算軟件（空洞率計算和顆粒度分析，不僅適用于超聲波掃描顯微鏡，同時可用于電鏡、光學顯微鏡、 共聚焦顯微鏡、 X-Ray 等眾多顯微檢測設備） 七 使用要求；220V，50Hz ，去離子水歡迎您來電咨詢，我們會根據您的產品檢測需要，為您推薦最合適的機型和配置.設備如軟件、硬件升級，相關參數會有所變更，請以生產廠家確認為準。